哔哥哔特商务网旗下:
当前位置: 首页 » 下载 » »

磁损测试平台数字激励源的软启动电路设计

PDF文档
  • 文件类型:PDF文档
  • 更新日期:2017-08-04 09:51
  • 浏览次数:950
  • 下载次数:149
  • 进入下载
广告
详细介绍
正弦激励信号源是高频磁芯损耗自动测试系统的核心装置,直接决定了测试系统的精度和可靠性。本文研究了基于DDS的波形生成技术实现正弦信号源频率、幅值的实时控制方法,提出了一种软启动电路可有效克服DDS芯片输出信号瞬间的暂态过程和滤波电路关断延时过程。磁性元件是电气设备中的核心器件,起到储能、电能隔离等作用。磁性元件温升过高将显著影响电气设备的性能与可靠性,因而对磁性材料损耗进行测试并获得相关激励条件下的损耗数据非常重要[1-2]。厂家一般需要提供磁芯在正弦激励下的损耗数据,因此正弦信号源是整个磁损测量系统的核心装置。
通过模拟电路产生正弦信号虽然具有较好的精确度,但稳定性相对较低且不易调节,电路系统体积庞大。直接数字频率合成技术(DDS)具有频率分辨率高、频率转换速度快、相对带宽宽等优点[3]。采用DDS技术生成正弦信号智能化程度高,通过软件控制便于实时控制。但是基于DDS技术生成的信号瞬间,电路的动态响应时间长,经过后级功率放大器放大后对测试元件产生较大的冲击电压、过电流等现象,对测试设备的可靠工作产生严重危害。同时,磁芯元件的功耗对激励波形较敏感,畸变的暂态波形会影响测试精度。为了克服以上缺点,本文提出了一套软启动控制装置,能有效克服DDS芯片输出信号瞬间的暂态过程和关断延时过程,使被测磁性元件获得较好的激励波形。



详细请查看附件

 
[ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]

 
推荐下载
下载排行
浏览排行
粤B2-20030274号   Copyright Big-Bit © 2019-2029 All Right Reserved 大比特资讯 版权所有     未经本网站书面特别授权,请勿转载或建立影像,违者依法追究相关法律责任