根据影响MOV电容的主要因素以及晶界肖特基势垒变化、离子迁移理论等氧化锌压敏电阻的老化机理，提出了氧化锌压敏电阻老化过程中必然伴随电容量的变化。在8/20μs不同的冲击实验下，对电涌保护器(SPD)用氧化锌压敏电阻(MOV)进行老化实验表明：MOV的电容量均随老化程度增加而呈现上升趋势;在In标称值冲击下，MOV电容量随冲击次数近似线性上升。通过实验提出了电容量增幅具有考量MOV老化程度的重要意义;同时证明：结合U1mA、IL和电容量3个参数能够更好地分析MOV内部老化原因。本文作了综述介绍。
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